Rohde&Schwarz增强了其R&S QAR质量汽车天线罩测试仪,这是一种为雷达集成测试量身定制的解决方案,用于分析和评估天线罩和保险杠的雷达兼容性。通过新的R&S QAR-K50单簇测量软件,原始设备制造商和一级供应商能够获得与矢量网络分析仪(VNA)和准光学(QO)设置非常接近的测量结果,但采用无损和二维方式。此外,用户受益于直观的R&S QAR运营理念。
R&S QAR是一种毫米波成像系统,用于高要求的天线罩和保险杠材料测试和验证。由于其卓越的性能、速度、质量和直观的操作,它是从开发和生产到验证天线罩材料以及集成76ghz至81ghz雷达的完美工具。
高空间分辨率的代价是在入射角方面有更大的传播。典型的雷达传感器具有一定的视场,例如,全范围(FRR)为+/-10°,短程雷达(SRR)为+/-60°。从材料表征技术出发,天线罩的反射参数主要定义为垂直入射角,因为这些参数可以用VNAs测量。R&S QAR-K50软件选项解决了这个问题。
将R&S QAR的测量结果与标准矢量网络分析仪(VNA)和准光学(QO)装置的测量结果进行比较,可以看出一些偏差,并用R&S QAR使用的较大孔径加以解释。
这就是R&S QAR-K50软件选项发挥作用的地方。它自动检测材料样品的最高反射,并在测试区域平均。确定反射区域的平均值,并在不到7秒内将其作为测量结果显示给用户。该值与VNA的S11和S22反射测量结果非常匹配。
在R&D期间使用VNA和QO设置进行的测量现在可以直接与R&S QAR测量进行比较。与VNA装置相比,该装置仍采用微波成像,但天线孔径较小,因此对定位误差不太敏感,更适合生产环境。R&S QAR-K50软件可自行检测正确的测量区域,并在样本位置稍微超出公差时向操作员提供光学反馈。R&S QAR现在将其用于均匀性分析的高分辨率图像(R&S QAR-K10软件)与一个健壮且易于使用的反射测量相结合。使用R&S QAR-K50软件选项获得的测量值与VNAs在QO设置中提供的结果具有直接可比性。
发布日期: 2024-05-09
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