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PID 绝缘测试仪（TOS7210S）是为准确有效地对太阳能电池模块的 PID(Potential Induced Degradation) 现象进行评估， 以绝缘电阻测试仪（TOS7200）为基础设计而成的测试仪。附有极性切换功能，输出电压可达 2000V, 同时装载了 nA 级分辨率的电流表，因此不只可以进行 PID 评估，还可以用于要求进行高敏感度测试的绝缘体评估测试。标准安装了可从外部调用的面板存储器及 RS232C 接口，因此也可以灵活对应自动化系统。
PID 现象是指太阳能电池与边框长期被施以高电压，电池发电量显著降低的现象。目前认为所施加的电压越高并且越是在高温、高湿的 环境下劣化现象越严重。如晶体硅太阳能电池模块的输出电压即使只有数十 V，一旦直接连接的片数增加，串内的电位差将变得非常 高。一方面，PCS（Power Conditioning System）作为交流电源与系统相连 , 使接地形态发生变化。输入端采用浮接（一侧电极不能接地 线）的无变压器方式近年也有所增加。这种情况下电池和地线间将发生高电位差。晶体硅太阳能电池模块中，相对于边框（接地线）负极电位高的电池容易发生 PID 现象。（请参照图 1） 目前，日本国内以 Max 600V、欧洲以 max 1000V 的系统电压运行太阳能电池模块，但是目前出现了提高 Max 系统电压以削减企业用大规模太阳能发电系统的串数、PCS 总数，提高发电效率的趋势。
图1
图 2 模拟了晶体硅太阳能电池模块处于高电位差的状况。 边框为正极电位、模块电路处于负极高电位的状况。晶体硅太阳能电池模块的PID现象被认为是白板强化玻璃内的钠离子向单元侧移动，从而引起劣化。（薄膜类太阳能电池模块也被确认出现 PID 现象，但是发生劣化的机制与晶体硅太阳能电池模块不同。）现在，各种研究机构正在通过研究、试验查找 PID 现象的原因。
图2
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