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阻抗分析仪IM7581

● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间:最快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
CE GP-IB GP-IB
选件
RS-232C
选件
GP-IB
 
3year

最快0.5ms,覆盖100kHz~300MHz的低频

● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间:最快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
 

阻抗分析仪IM7580s:等效电路分析功能

能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列:使用SMD治具IM9201进行LCR测量

IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。

阻抗分析仪IM7580系列:区域判定功能

分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围,并以IN/NG来显示判定结果。

阻抗分析仪IM7580系列:峰值判定功能

分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围,并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。

阻抗分析仪IM7580系列:SPOT判定功能

分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数,最多进行16点的判定。

阻抗分析仪IM7580系列:比较器功能

使用比较器功能,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。

阻抗分析仪IM7580系列:接触检查功能

使用接触检查功能,能够检查样品和测量端口的接触状态,并确认接触不良情况和连接状态。

阻抗分析仪IM7580系列:测试头的连接方法

测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母(0.56 N・m)。
请注意不要拧过头。


精度计算软件

测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母(0.56 N・m)。
请注意不要拧过头。

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