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阻抗分析仪IM3570

● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
CE GP-IB GP-IB
标配
GP-IB
标配
RS-232C
标配
3year
标配
   

1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400



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