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12DES系列常温介电测量系统

常温介电测量系统用于常温环境下材料、器件的介电性能测量与分析，可测量以下参数随频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律：电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、电导(B)、导纳(Y)、损耗(D)、品质因数(Q)等参数，同时计算获得反应材料介电性能的复介电常数和损耗参数。系统操作简单、方便，可灵活定制测试项目。测试材料的介电频谱、阻抗频谱、导纳谱、cole-cole图以及C-V特性。

三电极结构设计

12DES介电夹具可适配更多LCR或阻抗分析仪，完成常温下材料的介电阻抗特性测量



功能特点

严格按照ASTM D150国际标准设计，电极表面镀金处理，导电性能好、抗氧化，使用寿命更长



带电极和无电极样品都能测量

标配26.8/38mm尺寸电极片，可满足不同尺寸样品测量，样品安装方便、简单



测试仪器


常温介电测量系统可适配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、

Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等系列LCR表或阻抗分析仪，其他品牌型号也可定制开发



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