HTXB 多功能智能环境老化设备

革命性的创新理念，重新定义环境老化试验设备

HTXB 系列产品是一款多功能的功率半导体器件环境老化试验设备。主要用于功率半导体器件的环境老化试验，比如 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的 HTGB/HTRB 试验。

HTXB 系列产品采用全新的革命性创新设计理念，重新定义环境老化试验设备。允许在一台设备上完成 HTGB/HTRB 两种不同的试验，极大地提高了设备综合利用率，并减少了采购成本,解决了实验室空间紧张的问题，降低并优化了老化试验的人力、电力支出综合成本。电源电压范围最大为 0~6500V，可以根据客户要求选择不同电压等级电源，满足了不同产品同时试验的需求。试验温度范围最大可达常温~260℃，满足了宽禁带半导体器件老化试验对于更高温度测试需求。最多支持 1280 个分立器件或72只半桥模块（上下桥切换），并支持不同封装的分立器件和模块组合试验，最大化地利用资源满足研发和大批量生产要求。

HTXB 系列产品还支持用户通过 ALITA SMART LAB 等软件在移动端/PC 端进行远程监测和控制，用户可以随时随地的控制或者了解试验进程。设备发生异常状态会自动报警，极大地缓解了值班人员工作压力。

特点与优势

高可靠性

源自国际知名功率半导体器件厂家高可靠设备技术基因，并经过自主优化、创新和长期验证，保证了整个系统的高可靠性;HTXB设备关键零部件全部采用进口组件，保证产品品质。

远程监控

支持用户通过移动端/PC端的ALITA软件远程控制试验进程，远程开启、关闭试验进程、设置试验参数等；自动报警。器件异常时设备会自动通过ALITA软件提醒移动端/PC端用户在第一时间做出响应，避免传统的间歇值班造成的滞后损失，完全实现了试验过程中 7*24h 可无人值守；实时监测。用户可以在移动端/PC端随时随地的监测试验进展，了解当前测试结果和历史测试曲线等。

高效率

一台设备可以完成HTRB/HTGB两种试验，最大化提高了设备使用率；一台设备可以同时进行HTRB/HTGB试验，极大减少了占地空间、降低了电力和人力管理成本。各区域可独立配置实验条件，包括试验类型、偏压及保护上限等。通过ALITA云平台管理软件，大幅提高设备管理和数据管理效率。

高精度

最小0.01nA分辨率，1% of reading value±0.5nA电流检测精度。HTXB设备采用精密线性稳压稳流电源，极大的降低时漂、温漂、负载效应、源效应对偏置电压的影响，优秀的电源纹波特性保证了的稳定的电压输出。

数据管理

数据保存方式采用一边试验一边保存，避免数据丢失。数据采用数据库管理结构存储格式，方便后期用ALITA软件对试验结果查询、检索、分析和计算等。

安全防护

检测到漏电超限后100ms内完成保护并切断该通道电源回路，防止样品进一步烧毁，且不影响其它测整个系统充分考虑的测试人员安全，放置高温、高压对人体造成的损伤，断电时设备仍指示状态及报警。