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半导体特性曲线图示仪 CS-8000系列

主要特点：

  • 最大5kV、最大2000A的大功率测试
  • 正确的微电流测量　(分辨率250fA）
  • 大画面12.1英寸触摸屏幕
  • 多种GATE信号输出功能
  • 充实的温度特性测量选配件
  • 探测台上的大功率晶圆测试


易于使用的UI

搭载12.1英寸TFT-LCD(1,280×800)的高清、大画面显示器，添加触摸屏幕操作功能，可通过前面板上的功能键、各功能的独立旋钮实现直观操作。

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①X-Y显示区域

可将任意电压/电流参数分别设置于X轴、Y轴，并显示Vds Id特性、阈值电压、Vds-Vgs饱和特性等各种半导体特性曲线。同时，还可在Y轴上设置多个参数。刻度可在Log/线性之间相互切换。

②Y-T显示区域

可像示波器一样通过时间轴显示测量印加波形。可实时确认脉宽、测量点、振荡等波形异常等，所以可轻松检验测量是否正确完成。 所有印加波形数据均可与X-Y显示的数据同时保存，所以可对测量结果再次执行检验。

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③测量数据显示区域

以文本方式显示详细测量结果和测量条件、状态。

④配置设置区域

设置设备的测量配置。支持以图形方式显示电压/电流单元的选择及配线变更等

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⑤参数设置区域

在此区域执行测量参数/测量限值的设置及手动/自动测量的切换等作业。

⑥操作面板

正面面板上配有按钮和转动旋钮，可轻松执行手动测量。 配置于中央的数字键可执行参数的数值输入。 可通过DRAIN/COLLECTOR/GATE/BASE/垂直轴/水平轴转动旋钮轻松执行手动测量。

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基于用途的输出源

可基于用途任意选择测量所需电压/电流单元。

右侧照片分别为：

上段：测试台

下段：大电流单元

HV单元

2kV、5kV的高电压单元。DC/脉冲波可选。额定电压/额定电流驱动测量可选。


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MV单元(所有主单元共通)

200V的中电压单元。额定电压/额定电流驱动测量可选。DC、脉冲等、SIN、半波、全波波形可选。

GATE单元(所有主单元共通)

40V的单元。额定电压/额定电流驱动测量可选。DC、脉冲等、SIN可选。


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HC单元

搭载大电流模式，由此可支持最大2000A的大电流测量。脉宽、测量周期、测量范围均可调整

最小电流分辨率 250 fA

通过三轴的采用和测量类的优化，有效削减了设备内的漏电流和噪声，可实现微电流的稳定测量。

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多种GATE信号输出

可按排序输出、印加GATE信号。

保持时间可调范围

0.000[s] ～ 5.000[s]

预备信号电压范围

GATE侧 -40[V] ～ +40[V]

迟滞测量

CS-8000对于具有迟滞的SiC及GaN等宽禁带半导体测量备有便利功能。

双重扫频功能可同时显示UP扫频、DOWN扫频，所以可执行迟滞观测。

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安全机构

添加联动功能，备有输出限值功能。

可为电压/电流/功率分别设置限值，由此防止DUT的损伤。

同时，通过硬件的过电流保护功能，在流入测量量程的1.4倍电流时即会阻断电流。

组合结构

可根据测量对象电压和电流选择HC单元或测试台。

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