GtestWorks自动化测试平台
VectWorks 3.0电性能测试软件
STS系列半导体静态参数测试系统
PTS系列电性能测试系统
DGR0803 双模多路切换开关
DGR3680 双模多路开关系统
RSP26xxK/RSP26xxKF 射频开关系统
DL950示波记录仪
SL2000 高速数据采集系统
SL1000高速数据采集仪
GM10数据采集系统
IsoVu™隔离电流探头
CWTMini50HF系列柔性电流探头
CWTMini系列柔性电流探头
CWT Ultra-mini系列柔性电流探头
IsoVu™系列光隔离电压探头
TPR1000/4000系列电源轨探头
BumbleBee®系列高压差分探头
HORNET®系列高压差分探头
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应用解决方案
半导体生产流程涵盖晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试这四个工序,测试需求贯穿始终。特别是越高端、越复杂的芯片对测试的依赖度越高,每个工序、每个环节都不允许有偏差,测试的完整性直接关系到最终电子产品的品质。随着5G、大数据、人工智能等新兴市场的崛起,半导体器件的日益复杂化,将驱动对更高性能的测试需求。在此背景下,全球半导体测试企业纷纷革新半导体测试设备及系统,以满足日益更新的测试需求。
绿测科技助力国家半导体行业战略布局,致力于打造标准化、规范化、自动化的半导体测试解决方案。