当前位置：首页 / 产品与服务 / 半导体与功率器件测试 / 半导体参数分析仪

Keithley PCT参数波形记录仪

主要特点：

  • 完善的解决方案，价格实惠且性能优异
  • 可现场升级和重新配置，将 PCT 转换成可靠性或晶片分类测试仪
  • 可配置功率电平：
    • 200V 至 3kV
    • 1A 至 100A
  • 宽动态范围：
    • µV 至 3kV
    • fA 至 100A
  • 全量程容-电压 (C-V) 能力：
    • fF 至 µF
    • 支持 2、3 和 4 端器件
    • 高达 3kV DC 偏移
  • 高性能测试夹具支持一系列软件包类型
  • 探头测试台接口支持最常见的探头类型，包括 HV 同轴三线电缆、SHV 同轴电缆、标准同轴三线电缆等

开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。

寻找更多销售、技术和解决方案的信息？

联系我们
关于绿测

绿测科技是一家专注于耕耘测试与测量行业的技术开发公司，以工程师的测试管家的理念向广大客户提供专业的服务。总部工厂设立于广州番禺，随着公司业务的发展，先后在广西、深圳、广州等地设立了子公司。经过深耕测试与测量领域多年，组建了一支经验丰富的团队，可为广大客户提供品质过硬的产品及测试技术服务等支持。绿测科技主要业务范围由以下方向组成：开发服务、系统集成、实验室建设、测试咨询服务。

查看详情
应用解决方案
产品与服务
新闻资讯
绿测公众号
绿测微信公众号
020-22042442
Copyright @ 2023 广州绿测电子科技有限公司 版权所有 E-mail：Sales@greentest.com.cn 粤ICP备18033302号