提供完整的电路设计解决方案
从静态特征、栅极电荷特征到功率损耗的宽泛器件参数测试
搭配STS系列半导体静态参数测试系统和IVCVQG测试治具，实现一键自动化测试
支持测试所有IV、栅极电荷、电容、切换特征、功率损耗参数
兼容MOSFET、IGBT、BJT、Diode等类型器件的测试
单一软件程控包括测试治具在内的所有测试设备
提供可视化的操作步骤和测试流程指引，简单直观
支持自定义被测器件的限值，用于后续的PASS/FAIL判定
测试数据与日志实时刷新，支持数据表、曲线图等显示，提供错误告警功能
测试数据/报告可导出为Word、pdf、Excel、CSV等多种格式
适用于三管脚/两管脚的半导体封装器件或晶圆器件的测试与表征
车载充电机、充电桩、储能变流器等
高压、大电流性能测试......，符合续航提升和快充需求
变频器、伺服驱动器、电机驱动系统等
高频开关特性、过载保护测试......，支撑工业设备的精度和高效运行
封装器件、晶圆级器件等
击穿电压测试、漏电流测试、导通电阻测试......，确保工艺稳定性
| 特征 | 类别 | 参数 |
|---|---|---|
| 静态特征 | 阈值电压 | Vgs(th)、Vge(th) |
| 传输特征 | Id-Vgs、Ic-Vge、gfs | |
| 导通电阻 | Rds-on、Vce(sat) | |
| 栅极泄漏电流 | Igss、lges | |
| 输出泄漏电流 | Idss、Ices | |
| 输出特征 | Id-Vds、Ic-Vce | |
| 击穿电压 | BVds、BVces | |
| 栅极电荷特征 | 栅极电荷 | Qg、Qg(th)、Qgs、Qgd、Qsw、Qsync、Qoss |
| 电容特征 | 栅极电阻 | Rg |
| 器件电容 | Ciss、Coss、Coss_eff、Crss、Cgs、Cgd、Cies、Coes、Cres | |
| 切换特征 | 切换参数 | Td(通)、Td(断)、Tr、Tf*1 |
| 功率损耗 | 功率损耗参数 | 驱动损耗/切换损耗*2 特定占空比传导损耗*3 |
*1. 通过测得Qg特征、Vth和Rg计算得出切换参数
*2. 通过测得特定频率Qg特征、Vth和Rg计算得出驱动损耗和切换损耗
*3. 通过测得导通电阻和峰值电流计算得出传导损耗
• 导入导出
支持导入导出Json格式的测试配置
• 多类型切换测试
内置多种类型的DUT，提供特征参数和特征图测试
• 限值设置
支持设置被测器件的上下限值，可自定义电压、电流、温度测试条件
• 测试状态显示
通过颜色标识“进行”、“通过”、“失败”的测试状态
• PASS/FIAL判定
支持对测量值进行PASS/FAIL判定，并通过颜色标识判定结果
• 单步测试运行
支持自定义测试序列，可单步/连续执行测试序列
• 测试图表
支持测量并记录测试数据，并映射出测试波形图
• 测试数据
支持实时显示测试数据总表，数据可存储到数据库
• 测试日志
测试日志实时刷新，支持在测试异常、错误时进行告警
