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混合信号IC测试/IC测试原理解析第三部分混合信号芯片IC部分)

发布日期：2024-01-04 167 次

IC测试原理解析第三部分混合信号IC IC测试原理解析（第三部分）芯片测试原理讨论芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理。它分为四个章节。以下为第三章。章节。我们在第一章介绍了芯片测试的基本原理；第 2 章讨论了如何将这些基本原理应用到内存和逻辑芯片的测试中；本文重点介绍混合信号芯片的测试；介绍射频/无线芯片的
IC测试原理解析：混合信号芯片IC部分

发布日期：2023-12-02 183 次

基于DSP的测试技术在混合信号芯片测试中发挥了重要作用。与传统测试技术相比，这种测试方法具有许多优势。首先，由于能够并行执行参数测试，这大大减少了测试时间。其次，由于能够区分每个频率的信号分量，这意味着测试的准确性和可重复性得到了显著提高。噪声和失真可以从测试频率或其他频率分量中分离出来，因此对混合信号
芯片测试：IC测试机-ATE

发布日期：2023-11-10 295 次

ATE/ATS内部结构简介ATE/ATS:自动测试设备/自动测试系统，也称测试机是测试工程师在IC测试中必须使用的工具，本文主要从技术层面对ATE/ATS的组成及软硬件及其接口要求进行了简明扼要的论述，以便测试工程师了解、掌握。通常将在计算机控制下，能自动进行各种信号测量、数据处理、传输，并以适当方式显示或输出测试结果的系统

关于绿测

广州绿测电子科技有限公司（简称：绿测科技）成立于2015年11月，是一家专注于耕耘测试与测量行业的技术开发公司。绿测科技以“工程师的测试管家”的理念向广大客户提供专业的管家服务。绿测科技的研发部及工厂设立于广州番禺区，随着公司业务的发展，先后在广西南宁、深圳、广州南沙、香港等地设立了机构。绿测科技经过深耕测试与测量领域多年，组建了一支经验丰富的团队，可为广大客户提供品质过硬的产品及测试技术服务等支持。

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