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半导体参数分析仪

  • 适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的特性测量
  • 适用于IGBT、MOSFET、晶体管、二极管等各种半导体的特性测量
  • 可与多种单元组合,适用于任何工序的特性评估,支持下一代的半导体测量。
  • 适用于功率设备的特性测量,支持超高电压/大电流
  • 本装置是一款测量软磁材料交流磁力特性的装置。 最适用于材料、磁芯、以及装置厂商的研究开发部、质量保证部门、制造部门的新商品···
  • FS-Pro半导体参数测试系统是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备。
  • Keysight B1500A 半导体参数分析仪是一款一体化器件表征分析仪,能够测量 IV、CV、脉冲/动态 I-V 等参数。 主机和插入式模块能够···
  • 9812DX作为单一完整的低频噪声测试系统,支持多种半导体器件类型在各种工作条件下(如200V高压、10pA极低电流等)的高精度噪声测···
  • 9812E是行业标杆级闪烁噪声(1/f噪声)测试系统9812DX简配版。
  • 9812AC是业界首套商用级动态交流噪声测试系统,为探索半导体研究新领域提供了一个全新的专业工具。
  • 产品特点: 广泛的工作条件与精密测量功能相结合 适合功率器件表征的综合解决方案,高达 1500 A 和 10 kV 中等电流测量和高电压偏···
  • 使用吉时利4200A-SCS参数分析仪(参数测试仪) 加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析···
  • 主要特点: 全面​的​RF、​数字​和​直流​仪器​产品​组合​​您​可以​自​定义​新的​STS​配置​并​升级​现有​测试···
  • 主要特点: 完善的解决方案,价格实惠且性能优异 可现场升级和重新配置,将 PCT 转换成可靠性或晶片分类测试仪 可配置功率电平:···
  • S530 功能 灵活的探测器接口选项,包括测试头,支持原有吉时利和 Keysight 装置 行业标准的 KTE 软件环境 触摸一次探头即可完成高···
  • 近年来,我们使用的智能设备数量显着增加。模拟/传感器 IC 的作用不仅在智能社会,而且在其他领域都变得至关重要。这些设备比以往···
  • 适用于各种封装形式的模拟、数字、数模混合集成电路,包括存储器、超大规模集成电路等 IC器件的高温动态老炼筛选和寿命试验。
  • 革命性的创新理念,重新定义环境老化试验设备 HTXB 系列产品是一款多功能的功率半导体器件环境老化试验设备。主要用于功率半导体···

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